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基礎信息Product information
產品名稱：
高低溫介電溫普儀
產品型號：HCWP-s系列
廠商性質：生產廠家
所在地：北京市
更新日期：2023-08-28
產品簡介：
高低溫介電溫普儀概述：本高頻介電溫譜系統(tǒng)主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學性能測試，系統(tǒng)包含高溫爐膛， 阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數，介質損耗，阻抗譜 Co-Co 圖， 機電耦合系數等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率， 時間變化的曲線，測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。
產品特性Product characteristics
| 品牌 | 華測 |
|---|
高低溫介電溫普儀特點：
公司高溫介電測試夾具、高溫四探針夾具、高溫兩探針夾具，可與高溫測試平臺配套組成一套或多套高溫阻抗、介電測量系統(tǒng)。
溫度范圍從室溫至 600℃、800℃、1000℃、1200℃，具備精確的 PID 控制算法，控溫精度可到±1℃，確保溫度控制不超調。提供 7 種不同控溫方式，盡可能滿足客戶多種測試需求。
高溫介電測試夾具根據標準 ASTM D150 方法，采用平行板電極原理設計。電極由上電極、下電極以及保護電極組成。上下電有良好的同心度和平行度，保護電極可減少周圍空氣電容的影響，使得測試數據更加可靠。
公司開發(fā)的高溫阻抗、介電測量系統(tǒng)軟件將高溫測試平臺、高溫測試夾具與 WK6500 系列、Agilent(Keysight) 4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron 1260 LCR 測量設備無縫連接,實現了自動完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數的測量與分析。另外，還可根據用戶提供的其他 LCR 品牌或型號完成定制需求。
軟件可根據實驗方案設計，通過測量 C 和 D 值，自動完成介電常數和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時間多維變化的曲線。一次測量，同時輸出，測量效率高、數據豐富多樣。
技術指標：
型號 | HCJD-801 | HCJD -802 | HCJD -803 | HCJD -804 |
溫度范圍 | 室溫~600℃ | 室溫~800℃ | 室溫~1000℃ | 室溫~1200℃ |
溫度精度 | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ |
測量精度 | 0.05% | 0.05% | 0.05% | 0.05% |
升溫速率 | 10℃ | 10℃ | 10℃ | 10℃ |
控溫方式 | PID | PID | PID | PID |
頻率范圍 | 20HZ-30MHZ | 20HZ-30MHZ | 20HZ-30MHZ | 20HZ-30MHZ |
電極材料 | 鉑金 | 鉑金 | 鉑金 | 鉑金 |
通道數 | 通道 1 | 通道 1 | 通道 1 | 通道 1 |
測量環(huán)境 | 常溫真空氣氛 | 常溫真空氣氛 | 常溫真空氣氛 | 常溫真空氣氛 |
通訊方式 | USB | USB | USB | USB |
設備尺寸 | 600X400X650mm | 600X400X650m | 600X400X650m | 600X400X650m |
應用領域：
復合絕緣擦亮
高分子絕緣材料
無機絕緣材料
有機絕緣材料
其它絕緣材料等
高低溫介電溫普儀功能特點：
測量精度高，精確控溫，測量頻率寬，抗交流干擾； 介電軟件功能，擁有測量系統(tǒng)；
直接得出介電常數實部和虛部的比值曲線；
直接得出復阻抗實部和虛部比值曲線的 Cole-Cole 圖； 直接得出機械品質因數 Qm；
集方案、測量、分析、數字化顯示于一體集成化設計；
京公網安備11011302007502號