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2020-07-28
下圖中示出了室溫下PLZT系統陶瓷的組成相圖。由圖可見，過量地加入La將產生不均勻多相，在均勻的固溶區域，La的置換將降低PLZT材料的鐵電-非鐵電轉變溫度，其幅度大致是每置換1個原子百分數線性地降低37℃。當PbZrO3/PbTiO3比為65/35時，9%La足以使鐵電相的穩定區域降低到室溫以下。因此，這個組成(簡寫為9/65/35)在室溫下是非鐵電的立方對稱的PLZT陶瓷。圖中SFE斜線區是彌散型亞穩定鐵電相區。在此區域內的PLZT組成能以足夠強的電場進行電誘相變，并表現...2020-07-27
一、注意事項：1.在對本試驗儀器校準過程中，相關人員請注意配合。2.校準人員務必站在絕緣腳墊上進行相關操作。3.校準過程中儀器不得增加相關負載。4.校準過程中相關的電壓上限及電流設定為大值，（將會造成儀器部分保護將不起作用）故要求操作人員務必按流程操作，否則可能發生電擊危險。5.將分壓器與試驗變壓器按要求接好；二、校準步驟：打開試驗軟件進入設置——電壓標定——輸入密碼，進入數據標定界面；注：電壓標定分11個點，即10段進行標定，上排數據為數字量，即機器識別的數據，下排為實際量...2020-07-24
高溫介電測量系統用于分析寬頻、高溫條件下被測樣品的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量，同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線，是專業從事材料介電性能、溫度弛豫、電弛豫研究的理想測試工具。用戶通過軟件可以直接得出介電常數和介電損耗、阻抗譜、磁導率、機電耦合系數等隨溫度、時間、頻率、偏壓變化的曲線，HGJW-800高溫介電測量系統是功能陶瓷器件實驗室*電學性能評估設備。HGJW-800系統搭配Labview系統開發的h...2020-07-23
電子光是一交替變換的電磁波，其中電場與磁場方向相互垂直，光會在介質晶體中誘導電極化而光本身也會受此晶體的影響。電子光的交替變化頻率是如此之高(~1015Hz)，以致只有電子極化部分能跟上電場的變化，因而晶體的相對介電常數小，不超過10.高頻下的介電常數ε與折射率n存在下列關系一般來說，折射率是對稱的二階張量，可以用折射光率體來表示式中，n1、n2和n3是主折射率。當一外電場施加到晶體上時，產生離子位移，并改變電子云的形狀，結果導致折射率發生變化，這種現象就稱為電光效應。在外電...2020-07-22
晶體按幾何結構可分為七個晶系：三斜、單斜、正交、四方、三角、六角和立方晶系。按照這些晶系相對一點的對稱性可以把它們進一步分為點群，共有三十二種點群。這些點群可分為具有對稱中心和沒有對稱中心兩類，其中十一種具有對稱中心，剩余二十一種沒有對稱中心。其中晶格結構無對稱中心的二十種點群(除432點群外)的晶體會具有壓電性，為壓電晶體。在壓電晶體中，有十種點群的晶體具有唯yi單向極軸，存在自發極化，其電子自發極化還會隨溫度而變化，即具有熱釋電性，為熱釋電晶體。而在熱釋電晶體中，有若干種...
京公網安備11011302007502號